B站新晋半导体行业知识科普UP主，首秀！

B站，一块神奇的土地，不仅可以看鬼畜视频，还可以学习科技知识。（您是不是早就发现这块宝地了呢）。近期，NI资深射频应用工程师谢玮就参加一位新兴行业知识科普UP主访谈，聚焦半导体测试领域的校准和Full Characterization两大主题，知识点满满，快来围观。

1校准

测试之前都需要进行仪器校准，测试仪器本身会带有自校准，客户也可以将仪器拿到计量院校准。但光做这些校准就够了吗？

仪表本身的自校准只是让仪表回到default状态，外部校准如计量院的校准是用其他的仪表来校准客户自己的仪器。这些措施很有用，但不够全面。除了这些，还需要客户自己来给仪器做系统级校准，包括：用功率计对标量的功率做定标、用频率计对频率做定标、用噪声源对噪声功率做定标、用TRL校准件或SOLT校准件做矢量测试校准。

实验室校准的基石：功率计、频率计、噪声源、矢量测试仪

系统级校准如何做？

各家仪表Spec中定义的精度典型值如何理解？

实验室如何做射频线缆的校准？

快来视频中找答案

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2Full Characterization测试

对射频芯片进行Full Characterization的全覆盖测试，是检测产品质量的有效手段。Full Characterization指的是对某一个具体测试指标进行全温度、全电压和全工艺下的标准测试。以下是Full Characterization的一个测试结果图。

Full Characterization测试图

这条Full Characterization测试曲线看似简单，工程师可能要辛辛苦苦测试1个月才能得到。

现在听半导体测试一线专家用13分钟的时间讲解Full Characterization测试需考虑的因素，以及如何用工具高效完成测试数据的整合处理。

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PP进行预约。

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